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由于磁吸力或測厚儀經(jīng)過校準后，在使用中不能再變動，所以在實際使用中可能會出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮，并對測量結(jié)果進行必要的修正。以獲得更準確的讀值。這些因素有：

a、鋼鐵基體的磁特性
磁性測厚儀受基體金屬導磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮，高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會使讀值偏高。
b、基體金屬厚度
該儀器有一個基體小臨界厚度值。型號不同，則該臨界厚度不同。請參考技術(shù)說明指標表（表1）。若厚度超過這一小臨界厚度值，測量值不會受到影響；反之，則造成讀值偏高。
c、邊緣效應
該測量方法對被測體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標指出了小測量面積。必須要測量這種場合時，一定要經(jīng)過校準。
d、曲率
被測量件的曲率對測量有影響，一般凸面造成測值偏大，凹面則偏小。盡管儀器在設計時對這方面有所補償。
e、覆蓋層的厚度
測厚精度隨覆層厚度變化面變化。對于薄的覆層，其測量精度是一個常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)；對于厚度的覆層，其精度與覆層厚度近似成正比。
f、剩磁
基體金屬的剩磁對 Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會有影響。
g、磁場
周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場會嚴重干擾測厚儀工作。
h、地球重力
Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對于地球重力方向影響。

了解了以上幾項可能影響測量精度的因素后，可以通過試測找到一個修正值。比較實用的方法是：在有以上情況的的沒有涂鍍層的被測件表面上先測量幾次，找到一個平均初始值，然后在同樣條件的涂鍍層表面測量取得讀數(shù)后，減去這個初始值。對于 b 項所列情況，可以采取在基材下面無隙緊貼一塊鐵板來近似解決。