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RENISHAW雷尼紹REVO五軸系統測頭選項

RSP2掃描測頭

RSP2是一種專門用于REVO^?系統的精巧的端部感應測頭，能夠進行二維掃描 (x, y) 和三維觸發測量。RSP2有一個通用的測頭體，多種不同長度、工作長度可達500 mm的測針架均可安裝在上面。RSP2掃描測頭的更多信息。

RSP3掃描測頭

RSP3-#系列是RSP2測頭的補充，為REVO系統提供三維 (x,y,z) 掃描能力，并可安裝測針曲柄進行測量。它用于三軸掃描，例如在測量過程中，使用固定的REVO^?測座角度。該測頭系列可以使用不同長度的測針，同時保持優異的測量性能RSP2掃描測頭的更多信息。

SFP1表面粗糙度檢測測頭

表面粗糙度量測通常需要使用手持式傳感器，或需要將工件搬到測量機上。REVO^?SFP1測頭將表面粗糙度檢測整合到坐標測量機測量程序，并將表面粗糙度分析數據整合到測量報告中，從而突破了上述局限性。

SFP1是一種專門用于REVO^?系統的精巧型端部感應測頭，能夠進行表面粗糙度測量，并具有可以安裝不同表面粗糙度檢測測針的通用測頭體。SFP1表面粗糙度檢測測頭的更多信息。

REVO^?交換架系統

REVO^?測頭交換系統適合用來在坐標測量機上實現REVO^?測頭與測針架的自動交換。該系統的主要作用是，通過提供使用和存儲較長測針和大型星形測針配置的能力來提高測量的靈活性。

要實現測量性能，則應使用REVO^?交換端口（RCPTC和RCP）和模塊交換架 (FCR25) 來自動交換REVO^?測頭與測針架。這些端口安裝在模塊交換架系統上（MRS）。RCPTC和RCP的更多信息。

快速校準

對傳統的坐標測量機用測量系統進行校準需要花費大量的時間，而這些時間本可用來測量工件。為REVO專門開發的*校準方法可測定測座和測頭的實際幾何尺寸，允許在單個操作中在任意位置進行測量，從而大大縮短了校準時間。REVO快速校準的更多信息。

REVO應用于閥門座和閥導測量

用傳統方法測量閥門座和閥導既困難又耗時，而且通常不能提供足夠的測量能力。

REVO和雷尼紹的Renscan5?技術在很大程度上改變了這種狀況。現在可以非常快速地采集大量數據，通過這些數據可以計算出閥門座和閥導特征的分析參數。重復性和再現性測試驗證了該方法的適用性。REVO應用于閥門座和閥導測量及分析的更多信息。