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產(chǎn)品名稱： |
mikrotest elektrophysik技術(shù)樣本 |
發(fā)布時(shí)間： |
2024-09-03 |
產(chǎn)品品牌： |
ElektroPhysik/德國(guó)EPK |
產(chǎn)品特點(diǎn)： |
mikrotest elektrophysik技術(shù)樣本歡迎您選購EPK 公司的Mikrotest 麥考特磁吸力式測(cè)厚儀德國(guó)EPK公司麥考特覆層測(cè)厚儀，準(zhǔn)確無誤地測(cè)量鐵上的所有非磁性涂層。如： 鉻、銅、涂漆、橡膠等；Nife50可測(cè)非鐵磁性基體上的電鍍鎳層。還可測(cè)量鐵上的電鍍鎳層。 |
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mikrotest elektrophysik技術(shù)樣本的詳細(xì)資料： |
mikrotest elektrophysik技術(shù)樣本歡迎您選購EPK 公司的Mikrotest 麥考特磁吸力式測(cè)厚儀德國(guó)EPK公司麥考特覆層測(cè)厚儀，準(zhǔn)確無誤地測(cè)量鐵上的所有非磁性涂層。如： 鉻、銅、涂漆、橡膠等；Nife50可測(cè)非鐵磁性基體上的電鍍鎳層。還可測(cè)量鐵上的電鍍鎳層。MIKROTEST覆層測(cè)厚儀、測(cè)量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度（如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳）。測(cè)量快速、準(zhǔn)確、無損，三十多年來MICROTEST已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的儀器。德國(guó)的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面，具有磁性覆層測(cè)厚儀的*高水準(zhǔn)。所有儀器均符合DIN、ISO及ASTM標(biāo)準(zhǔn).MIKROTEST*自動(dòng)操作.在使用時(shí)具有*可比擬的如下特性： 1. 自動(dòng)測(cè)量不會(huì)發(fā)生誤操作
2. 易于掌握并具有*精度
3. 不用校準(zhǔn)、設(shè)定、檢測(cè)簡(jiǎn)便
4. 不需要電池或其他電源
5. 自動(dòng)報(bào)出厚度讀值
6. 用無損測(cè)頭，一點(diǎn)測(cè)定
7. 金屬鎧裝適于室外頻繁操作使用
8. 抗機(jī)械沖擊、耐酸及溶劑腐蝕
9. 平衡裝置消除地心引力影響，可在任意方向和管內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量 磁吸引力工作原理Mikrotest 麥考特依據(jù)磁吸引力原理。
平衡臂保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量（如在垂直面或仰面測(cè)量） 
機(jī)械式鍍層測(cè)厚儀和電子數(shù)顯式Mikrotest 6 型測(cè)厚儀無需電池就可直接工作，
Mikrotest 7 型測(cè)厚儀則需要一節(jié)6V 堿性電池。
 MIKROTEST G6涂層測(cè)厚儀參數(shù)：? 測(cè)量范圍0-100μm
? 讀取精度為1μm或讀數(shù)的5％
? *小直徑20mm的測(cè)量區(qū)域
? *小凸半徑5mm
? *小凹面半徑25mm
? *小厚度為0.5mm的基板
? 適用于在鋼，漆，搪瓷，塑料，橡膠層上電鍍
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| 型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 測(cè)量精度 | *小測(cè)量區(qū) 直徑 | *小曲率半徑 | 基體 厚度 | 適用范圍 | | 凸 | 凹 | | MikroTest G | 0～100μm | 1μm或5% | 20mm | 5mm | 25mm | 0.5mm | 鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 | | MikroTest F | 0～1000μm | 5μm或5% | 30mm | 8mm | 25mm | 0.5mm | | MikroTest S3 | 0.2～3mm | 5% | 30mm | 15mm | 25mm | 1.0mm | | MikroTestT S5 | 0.5～5mm | 5% | 50mm | 15mm | 25mm | 1.0mm | | MikroTest S10 | 2.5～10mm | 5% | 50mm | 15mm | 25mm | 2.0mm | | MikroTest S20 | 7.5～20mm | 5% | 100mm | 100mm | 150mm | 7.0mm | | MikroTest NiFe50 | 0～50μm | 2μm+8% | 20mm | 10mm | 25mm | 0.5mm | 鋼上電鍍鎳層 | | MikroTest Ni50 | 0～50μm | 1μm+5% | 15mm | 5mm | 25mm | - | 非鐵金屬基體上電鍍鎳層 |
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| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： mikrotest elektrophysik mikrotest測(cè)厚儀 |
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