無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發揮作用。
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